E-GMP ICCU Failure: What's Actually Going On
Un long article qui synthétise tout ce qu’il y a sur le problème ICCU des véhicules eGMP de chez Hyundai (dont la Ioniq 6).
Hyundai Motor Group (Hyundai, Kia, Genesis) parle d’un défaut présent sur 1 % des véhicules eGMP (Ioniq 5, Ioniq 5N, Ioniq 6, Ioniq 6N, Ioniq 9, EV 3, EV6, EV9, Genesis GV60…).
Dans les faits, on serait plutôt sur 5-10 %.
Le problème en question, c’est le module ICCU (qui transforme le courant alternatif en continu, et le continu haute tension en continu 12 V, pour recharger la batterie 12 V notamment). Quand ce module casse, la voiture affiche une erreur, et le 12 V n’est plus rechargé. On a alors quelques minutes pour s’arrêter en sécurité avant que tout tout s’éteint : le système de bord, la direction assistée, etc. tout s’arrête alors.
Ce ne serait pas différent, sur une thermique, d’un alternateur qui lâche.
Cela fait 5 ans que ce problème existe chez Hyundai, et 5 ans qu’ils patchent ça avec des mises à jour ou des fusibles plus robustes, et aussi 5 ans que ce problème n’est pas éliminé complètement : les derniers modèles sont tout aussi concernés.
De façon surprenante, d’après les forums que je suis, le problème est très partagé sur les forums US, mais peu sur les forums français et européens. Est-ce que c’est à cause du volume de ventes, bien plus élevé aux USA ? Je ne sais pas.
Le problème semble avoir de multiples micro-causes, plutôt qu’une seule. Mais c’est à chaque fois un copmosant en particulier qui lâche.
Pour ma part, et comme la majorité des gens, je n’ai pas de problèmes. J’approche les 90 000 km et tout fonctionne parfaitement. La plupart des gens ont l’ICCU qui lâche en dessous de 10 000 miles (16 000 km). Mais certains ont eu le problème beaucoup plus tard. Certains clients ont explosé 3 ICCU à la suite… D’autres, enfin, ont roulé 580 000 km sans aucun soucis.
Le problème est connu, pas systématique, mais réel. Il est temps Hyundai s’en occupe réellement. Pas juste en remplaçant un fusible jusqu’à ce que ce dernier foire aussi, y compris sous garantie. Car à chaque fois, ce sont des semaines, voire des mois d’attente.
Enfin, les voitures du groupe HMG sont réputées très fiables, mais ce problème en particulier fait qu’il dégringole dans les classements. Ce n’est donc pas comme si Hyundai pouvait se permettre de s’en foutre complètement non plus.
C’est dommage, car autrement ce sont des véhicules excellents, sans histoires, fiables et solides. Y a juste « ce » problème.
Quant à la nature exacte du problème, c’est un transistor MOSFET qui grille, par fatigue. C’est ce transistor qui gère le passage de courant dans le chargeur de bord ou le convertisseur DC-DC :
The LDC uses a single-switch forward converter with active clamp topology. This isn't just jargon – it's central to understanding why the transients exist. In this design, the active clamp circuit resets the transformer's magnetic core after each switching cycle. The MOSFET that operates this clamp is the component that fails. The MOSFET switches at hundreds of thousands of times per second – the goingelectric.de teardown analysis identified a switching frequency of approximately 300 kHz. Each cycle produces a voltage transient as part of normal operation. The problem isn't that something goes wrong – it's that these normal operating transients, repeated hundreds of millions of times per day for the entire life of the vehicle, gradually destroy the component.
[…] This is a critical point that's often misunderstood: the MOSFET doesn't go from healthy to dead in one bad spike. It degrades gradually over months or years through well-documented failure modes specific to SiC power semiconductors. The day it finally dies is just the day the last transient pushed an already-failing component past its threshold.
Key insight: The "failure event" – the pop, the dashboard warnings, the car going into limp mode – is the end of a long decline, not a bolt from the blue. This also explains two things: (1) why the recall software fix helps even though the hardware is unchanged – it slows the degradation curve by reducing transient severity, and (2) why replacement ICCUs with the same hardware design eventually fail again.
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